日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU5000

--搭載用戶(hù)界面，向所有用戶(hù)提供高畫(huà)質(zhì)圖像--

       日立公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射
掃描電子顯微鏡"SU5000"，搭載了的用戶(hù)界面和"EM Wizard"，無(wú)論用戶(hù)的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。

       掃描電子顯微鏡在納米技術(shù)領(lǐng)域、材料領(lǐng)域、醫(yī)學(xué)生物等領(lǐng)域均被廣泛使用。不但可大幅提高做樣速度，更使視野再現(xiàn)性得到大大提高。并且，為了能適應(yīng)各種分析的需求，束流可達(dá)到200nA。再加上設(shè)計(jì)的背散射電子探頭和低真空二次電子探頭等，都使該款電鏡無(wú)論在是觀察樣品還是分析都具備了的功能與強(qiáng)大的擴(kuò)展性。但隨著近年來(lái)儀器性能的大幅提升，以及用戶(hù)群體的不斷擴(kuò)大，使得用戶(hù)對(duì)不需要任何經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)就能得到好照片的需求迅速擴(kuò)增。而且，由于觀察對(duì)象的樣品的不斷多樣化，對(duì)樣品的大小和性質(zhì)的無(wú)制約觀察變得尤為重要。

       這次新開(kāi)發(fā)的"SU5000"對(duì)用戶(hù)沒(méi)有任何操作技巧上的要求，通過(guò)"EM Wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升，對(duì)于用戶(hù)來(lái)說(shuō)，再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀察，只要按照觀察目的選擇"表面細(xì)節(jié)觀察“或是"成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣自由的選擇觀察條件，按照自己的操作習(xí)慣進(jìn)行設(shè)置。"EM Wizard“對(duì)于初學(xué)者或者使用經(jīng)驗(yàn)尚淺的客戶(hù)來(lái)說(shuō)，它的操作簡(jiǎn)易性和各種學(xué)習(xí)工具可以幫助您迅速成長(zhǎng)起來(lái)；對(duì)使用經(jīng)驗(yàn)豐富的客戶(hù)來(lái)說(shuō)，開(kāi)放了豐富的可設(shè)置選項(xiàng)，會(huì)令您操作起來(lái)更加得心應(yīng)手。這正是"EM Wizard"的價(jià)值所在。

       另外"SU5000"的尋找視野功能"3D MultiFinder"更是不但可大幅提高做樣速度，更使視野再現(xiàn)性得到大大提高。并且，為了能適應(yīng)各種分析的需求，束流可達(dá)到200nA。再加上設(shè)計(jì)的背散射電子探頭和低真空二次電子探頭等，都使該款電鏡無(wú)論在是觀察樣品還是分析都具備了的功能與強(qiáng)大的擴(kuò)展性。

       日立高新在8月3日至8月7日在美國(guó)康涅狄格州舉辦的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千葉縣幕張展覽中心舉辦的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克舉行的"18th International Microscopy Congress"上都做了實(shí)機(jī)展出。

*：肖特基式場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡：高亮度、大束流、穩(wěn)定性匯聚一身肖特基式場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡。分辨率高和可做各種定量定性分析。

肖特基式場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡"SU5000"                            "EM Wizard"畫(huà)面樣式

【主要參數(shù)】

 *1：減速模式是選配項(xiàng)     *2：低真空模式是選配項(xiàng)

    2014年，日立公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日立高新） 新型肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡*"SU5000"作為工業(yè)用設(shè)備榮獲由公益財(cái)團(tuán)法人日本設(shè)計(jì)振興會(huì)頒發(fā)的GOOD DESIGN AWARD 2014"(2014年度設(shè)計(jì)獎(jiǎng))。

有關(guān)GOOD DESIGN AWARD 2014"(2014年度設(shè)計(jì)獎(jiǎng))的詳情,請(qǐng)參考：